癲癇在手術(shù)前要做詳細(xì)檢查

時(shí)間:2013-10-20  來(lái)源:  作者: 我要糾錯(cuò)


(3)磁共振分光儀(MRS):是一種無(wú)創(chuàng)傷的新型腦功能性影像學(xué)檢查方法,用以反映顱內(nèi)生化代謝情況。

5.腦磁圖(MEG):是對(duì)腦的生物磁場(chǎng)加以描記而得到的圖形。對(duì)致癇灶的定位非常準(zhǔn)確,但價(jià)格昂貴。

6.磁源成像(MSI):是一種新的無(wú)創(chuàng)傷的檢查技術(shù),其特點(diǎn)是被顯示腦功能與結(jié)構(gòu)之間的關(guān)系?捎糜冢孩俑杏X和運(yùn)動(dòng)功能區(qū)的定位,區(qū)別病灶與重要功能區(qū)的界限,指導(dǎo)手術(shù)操作;②記錄發(fā)作間歇期致癇灶,并定位到MRI圖像上,指導(dǎo)手術(shù)及置入深部電極。

7.神經(jīng)心理學(xué)檢查:一種很重要的評(píng)價(jià)方法,主要評(píng)估智力、記憶及言語(yǔ)功能等。

二、第二期檢查

多為一些創(chuàng)傷性檢查,經(jīng)第一期檢查未能明確致癇灶者,術(shù)前應(yīng)考慮進(jìn)行。常用的有深部腦電圖(DEEG)、皮質(zhì)腦電圖(ECoG)及立體定向腦電圖(SEEG)等。

常用的電極有深部電極、硬膜下條狀和網(wǎng)狀電極以及硬膜外釘狀電極等。深部電極對(duì)顳葉或額葉起源的復(fù)雜部分性癲癇發(fā)作具有特殊的診斷價(jià)值。硬膜下電極可探查大腦突面、內(nèi)側(cè)面及顳葉下底面(海馬旁回)起源的致癇灶。

創(chuàng)傷性檢查的優(yōu)點(diǎn)為能準(zhǔn)確定出致癇灶;劃出致癇灶范圍并測(cè)出功能區(qū)范圍。缺點(diǎn)有感染、出血、腦梗塞等并發(fā)癥。

三、術(shù)中在切除致癇灶前后檢查

癲癇手術(shù)治療前的檢查關(guān)系到手術(shù)效果,因此,術(shù)前檢查盡管會(huì)很繁瑣,也需要患者及家屬能夠積極配合,醫(yī)生根據(jù)患者的檢查結(jié)果,才能夠更加詳細(xì)的決定手術(shù)方法,制定手術(shù)過(guò)程,讓手術(shù)順利進(jìn)行,有較好的預(yù)后效果。

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